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太陽(yáng)能電池分類(lèi)：圖一：帶EVA箔和玻璃的太陽(yáng)能電池放置在PIDcon中電位誘導(dǎo)衰減（PID）是光伏電站的一個(gè)嚴(yán)重的可靠性問(wèn)題。因此，調(diào)查其產(chǎn)品的PID敏感性是很重要的。PIDcon的目的是使生產(chǎn)商能夠在太陽(yáng)能電池的生產(chǎn)鏈中盡可能快地測(cè)試他們的產(chǎn)品，并調(diào)查封裝材料。因此，太陽(yáng)能電池及其SiNx層的影響可以立于EVA和玻璃的影響進(jìn)行研究。請(qǐng)注意，這里考慮的PID是太陽(yáng)能電池由于高電壓應(yīng)力引起的漏電電流（PID-s）而產(chǎn)生的分流。為了對(duì)太陽(yáng)能電池進(jìn)行分類(lèi)，使用敏感的EVA和玻璃是很...

EVA評(píng)估不同的EVA薄膜與來(lái)自同一批次和同一玻璃的太陽(yáng)能電池的比較PIDcon的測(cè)量設(shè)置PIDcon可以通過(guò)使用一個(gè)模擬模塊的樣品堆來(lái)調(diào)查EVA箔對(duì)PID敏感性的影響。用戶(hù)只需將太陽(yáng)能電池、需要調(diào)查的EVA箔和玻璃放在上面。當(dāng)然，必須使用同一批次的太陽(yáng)能電池和同一玻璃進(jìn)行比較。在圖1所示的例子中，兩種EVA薄膜的PID敏感度有明顯的差異。EVA1比EVA2更適合用于模塊。

根據(jù)IEC62804標(biāo)準(zhǔn)PIDcon的測(cè)量設(shè)置PIDcon測(cè)量的典型結(jié)果電勢(shì)誘導(dǎo)退化（PID）是光伏電站的一個(gè)嚴(yán)重的可靠性問(wèn)題。因此，調(diào)查其產(chǎn)品的PID敏感性是很重要的。PIDcon的目的是使生產(chǎn)商能夠在生產(chǎn)鏈中盡早地測(cè)試他們的產(chǎn)品，并調(diào)查封裝材料。PIDcon允許對(duì)標(biāo)準(zhǔn)生產(chǎn)單元進(jìn)行常規(guī)質(zhì)量控制，測(cè)試新工藝、材料或?qū)拥淖兓?duì)各種模塊步驟進(jìn)行鑒定。請(qǐng)注意，這里考慮的PID是由于高電壓應(yīng)力引起的漏電電流（PID-s）導(dǎo)致的太陽(yáng)能電池的分流。PIDcon的結(jié)構(gòu)實(shí)際上與IEC標(biāo)準(zhǔn)...

論文來(lái)源：K.Sporlederetal.,QuicktestforreversibleａndirreversiblePIDofbifacialPERCsolarcells部分摘要：雙面PERC電池背面PID會(huì)導(dǎo)致嚴(yán)重的功率損失。與單面PERC太陽(yáng)能電池相比，可以發(fā)生可逆的去極化相關(guān)電位誘導(dǎo)衰退（PID-p）和不可逆的腐蝕電位誘導(dǎo)衰退（PID-c）。研究表明，一個(gè)可靠的評(píng)估太陽(yáng)能電池功率損失的方法需要一種改進(jìn)的PID測(cè)試方法，需要在高壓測(cè)試上附加光照。此外，還需要在測(cè)試方案中...

衍射數(shù)據(jù)庫(kù)卡片又稱(chēng)為晶體結(jié)構(gòu)卡片或者晶胞卡片，是一種用于描述晶體結(jié)構(gòu)信息的標(biāo)準(zhǔn)化格式。這些卡片通常包含著晶體學(xué)家在分析晶體時(shí)所得到的重要數(shù)據(jù)，例如晶格參數(shù)、空間群、原子坐標(biāo)等等。衍射卡片可以作為研究晶體結(jié)構(gòu)的基礎(chǔ)，也可以作為共享晶體結(jié)構(gòu)信息的重要途徑。衍射數(shù)據(jù)庫(kù)卡片最初由國(guó)際晶體學(xué)聯(lián)合會(huì)(IUCr)于1965年提出，并于1985年進(jìn)行了更新。目前有多個(gè)常用的衍射卡片標(biāo)準(zhǔn)，包括CIF(CrystallographicInformationFile)、PDB(ProteinDat...

X射線(xiàn)三維顯微鏡(X-ray3Dmicroscopy)是一種可以在納米尺度下對(duì)樣品進(jìn)行成像的技術(shù)。它能夠提供高分辨率的三維結(jié)構(gòu)信息，能夠在材料科學(xué)、生物醫(yī)學(xué)、納米技術(shù)等領(lǐng)域發(fā)揮重要作用。X射線(xiàn)三維顯微鏡的工作原理基于X射線(xiàn)的特性。當(dāng)X射線(xiàn)射入樣品時(shí)，樣品中的物質(zhì)會(huì)吸收、散射或反射部分光子。通過(guò)探測(cè)器記錄這些光子，就可以推斷出樣品的三維結(jié)構(gòu)。與傳統(tǒng)的兩維投影成像不同，三維顯微鏡可以獲取大量的數(shù)據(jù)，并使用計(jì)算機(jī)算法將這些數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為三維圖像。這種技術(shù)通常需要使用X射線(xiàn)聚焦光束，以獲...

晶圓片晶錠壽命檢測(cè)儀是一種重要的設(shè)備，用于測(cè)試半導(dǎo)體器件的質(zhì)量和壽命。它是半導(dǎo)體工業(yè)中不可缺少的關(guān)鍵設(shè)備之一。晶錠壽命檢測(cè)儀采用高精度測(cè)量技術(shù)，能夠檢測(cè)和分析晶圓片和晶錠的性能、品質(zhì)和壽命。在半導(dǎo)體工業(yè)中，晶圓片和晶錠是制造芯片的主要原材料，所以其質(zhì)量和壽命非常重要。晶錠壽命檢測(cè)儀可以通過(guò)對(duì)晶圓片和晶錠進(jìn)行測(cè)試，評(píng)估其質(zhì)量是否達(dá)標(biāo)，并選擇適合的材料進(jìn)行生產(chǎn)。晶圓片晶錠壽命檢測(cè)儀主要由測(cè)試器、控制系統(tǒng)和軟件組成。測(cè)試器是檢測(cè)儀的核心部分，它可以對(duì)晶圓片和晶錠的性能和壽命進(jìn)行精準(zhǔn)...

PDF衍射卡片，顧名思義，是一種使用衍射原理來(lái)讀取信息的卡片。這種卡片的設(shè)計(jì)利用了特殊的圖案，當(dāng)這些圖案與光線(xiàn)相遇時(shí)，會(huì)產(chǎn)生衍射光，從而生成一些奇妙的圖像和信息。衍射卡片的制作非常簡(jiǎn)單，只需將需要顯示的圖案印在卡片上，并將卡片與光源垂直放置，便可展現(xiàn)出獨(dú)特的效果。PDF衍射卡片在生活中有很多實(shí)用的應(yīng)用，如：用于身份驗(yàn)證，防偽和保安系統(tǒng)。此外，衍射卡片也被廣泛用于教育和娛樂(lè)領(lǐng)域中，例如制作幻覺(jué)圖案、探索光學(xué)奧秘等等。在教育領(lǐng)域中，衍射卡片常常被用來(lái)幫助學(xué)生了解光學(xué)原理。通過(guò)觀察...